詳細摘要： 膜厚儀-Otsuka是一套快速、準確的顯微分光膜厚測量儀，通過測量顯微區(qū)域的光譜反射率，能夠非常精確地分析薄膜厚度和光學常數(shù)，非破壞性和非接觸式厚度測量可以在多...